功率半导体封装材料工艺验证研究
时间:2024-07-04 作者:超级管理员
项目背景:某公司委托智慧电力中心进行烧结银材料工艺验证技术服务
技术目标
对其自研烧结银膏运用在功率模块封装中的品质进行验证,并分析合适的工艺环节参数。
技术内容
根据甲方提供的工艺参数进行银烧结,烧结后进行必要的BLT测试、X-RAY空洞率测试、剪切力测试,提供测试数据,单次实验时间为两个工作日(此为一组测试实验),共进行12组测试实验。
技术方法和路线
1、针对不同型号样品、不同工艺参数设计实验方案
2、通过印刷、烘烤、贴片、烧结实现芯片与DBC基板烧结连接
3、进行BLT测试、X-RAY空洞率测试、剪切力测试,验证银膏烧结性能