近日，智慧电力中心团队在功率半导体器件可靠性研究领域取得重要突破，成功研发了一套用于高压绝缘栅双极型晶体管（IGBT）高温反向偏压（HTRB）测试的在线监测与控制系统，解决了长期困扰该测试的效率、精度与安全性难题。

首先，团队成功开发了失效点海量数据动态存储技术。该技术如同一位“智能侦探”，在漫长的实验周期内进行常态监测，一旦捕捉到预示失效的微弱信号，便能立即触发高速采集模式，完整记录失效瞬间的完整“黑匣子”数据。其次，团队自主设计了两套多通道并行测试夹具系统。两套系统均能在高压、高温与机械压力同时加载的苛刻环境下稳定工作，并能在任一器件失效时将其自动切除，有效防止了“火烧连营”式的连锁反应，确保了测试安全与效率。

尤为关键的是，团队已基本攻克了测试中结温稳定控制的业界难题。高压IGBT在测试中因“电压偏置”与“高漏电流”会产生显著自发热，极易导致结温飙升和热击穿。团队通过创新的控制算法，实现了对芯片结温的实时补偿与精确锁定，从根本上杜绝了热失控，为获取真实、可靠的实验数据扫清了障碍。